X射線(xiàn)熒光分析

X射線(xiàn)熒光分析(XRF)技術(shù)，是利用初級X射線(xiàn)光子或其他微觀(guān)粒子激發(fā)待測樣品中的原子，使之產(chǎn)生熒光(次級X射線(xiàn))而進(jìn)行物質(zhì)成分分析和化學(xué)形態(tài)研究的方法。當原子受到X射線(xiàn)光子(初級X射線(xiàn))或其他粒子的激發(fā)使原子內層電子電離而出現空位時(shí)，原子內層電子便重新配位，較外層的電子躍遷到內層電子空位，同時(shí)發(fā)射出次級X射線(xiàn)光子，即X射線(xiàn)熒光：較外層電子躍遷到內層電子空位所釋放的能量等于兩電子能級的能量差，因此X射線(xiàn)熒光的波長(cháng)對不同元素是不同的。